为深化科研交流，推动学科发展，电气工程学院“智电未来”科研学术论坛第五期于6月4日在钱塘校区教D204举行，吴太权教授主持。

本次论坛特邀朱东杰博士、孙毅博士作专题报告。朱东杰博士以“基于FPGA的高性能随机数发生器测试”为题，从高性能随机数发生器出发，结合Ising模型临界相变现象，阐述FPGA高性能计算的应用，分析硬件计算的优劣势。孙毅博士围绕“薄膜结构的屈曲、断裂与脱层行为研究”，深入讲解薄膜结构在屈曲失稳、耦合断裂及界面脱层方面的特性。

闫树斌副院长强调了科研人员需增强科研诚信，并对科研人员的规范经费使用进行了提醒。

报告内容前沿且实用，为学院师生搭建学术交流平台，拓宽科研视野，对学院科研工作开展起到积极推动作用。